Extraction of Effective Carrier Velocity and Observation of Velocity Overshoot in Sub-40 ㎚ MOSFETs

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of semiconductor technology and science 2008, Vol.8 (2), p.115-120
Hauptverfasser:	Junsoo Kim, Jaehong Lee, Yeonam Yun, Byung-Gook Park, Jong Duk Lee, Hyungcheol Shin
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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