1/f Noise Characteristics of Sub-100 nm MOS Transistors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of semiconductor technology and science 2006, Vol.6 (1), p.38-42
Hauptverfasser:	Jeong-Hyun Lee, Sang-Yun Kim, Ilhyun Cho, Sungbo Hwang, Jong-Ho Lee
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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