High-Level Test Generation for Asynchronous Circuits Using Signal Transition Graph
KCI Citation Count: 1
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| Veröffentlicht in: | Journal of the Korean Physical Society 2002, 40(1), , pp.193-198 |
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| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | kor |
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| Online-Zugang: | Volltext |
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| Zusammenfassung: | KCI Citation Count: 1 |
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| ISSN: | 0374-4884 1976-8524 |