Thickness dependence of the ground-state properties of thin films of the heavy-fermion compound CeCu_6

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Physical Review B 2001, Vol.64, p.144425
Hauptverfasser:	Groten, D., Baarle, G.J.C. van, Aarts, J., Nieuwenhuys, G.J., Mydosh, J.A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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