Interface Analysis of Cu(In,Ga)Se2 and ZnS Formed Using Sulfur Thermal Cracker

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ETRI journal 2016-04, Vol.38 (2), p.265-271
Hauptverfasser:	DaeHyung Cho, WooJung Lee, JaeHyung Wi, WonSeok Han, TaeGun Kim, JeongWon Kim, YongDuck Chung
Format:	Artikel
Sprache:	kor
Online-Zugang:	Volltext
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