On the Modeling of Polycrystalline Ferroelectric Thin Films: Landau-Based Models Versus Monte Carlo-Based Models Versus Experiment

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 2022-06, Vol.69 (6), p.3105-3112
Hauptverfasser:	Thesberg, Mischa, Alam, Md Nur K, Truijen, Brecht, Kaczer, Ben, Roussel, Philippe J, Stanojevic, Zlatan, Baumgartner, Oskar, Schanovsky, Franz, Karner, Markus, Kosina, Hans
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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