Understanding The Transistor Behavior of Electron-Spin Qubits Above Cryogenic Temperatures

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE Electron Device Letters 2024-11, Vol.45 (11)
Hauptverfasser:	Lorenzelli, Francesco, Godfrin, Clement, Stucchi, Michele, Grill, Alexander, Ruoyu, Li, Wan, Danny, De Greve, Kristiaan, Marinissen, Erik Jan, Gielen, Georges
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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