Embedding-Encoded Artificial Neural Network Model for MOSFET Preselection: Integrating Analytic Loss Models with Dynamic Characteristics from Datasheets

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Tian, Fanghao, Li, Shirong, Ning, Xiaobo, Cobaleda, Diego Bernal, Martinez, Wilmar
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	1048-2334