Cryogenic Small Dimension Effects and Design-Oriented Scalable Compact Modeling of a 65-nm CMOS Technology

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY 2024, Vol.12, p.369-378
Hauptverfasser:	Gatti, Alberto, Tavernier, Filip
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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