Boosting Latent Defect Coverage in Automotive Mixed-Signal ICs using SVM Classifiers

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Ieee Transactions On Computer-Aided Design Of Integrated Circuits And Systems 2023-02, Vol.42 (10)
Hauptverfasser:	Xama, nektar, Gomez Caicedo, jhon alexander, Dobbelaere, wim, Vanhooren, Ronny, Coyette, Anthony, Gielen, Georges
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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