Impact of Aging Degradation on Heavy-Ion SEU Response of 28-nm UTBB FD-SOI Technology

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 2022-08, Vol.69 (8), p.1865-1875
Hauptverfasser:	Mounir Mahmoud, Mohamed, Prinzie, J, Soderstrom, D, Niskanen, K, Pouget, V, Cathelin, A, Clerc, S, Leroux, P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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