Performance and Reliability Degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated Configuration

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY 2020, Vol.8, p.765-772
Hauptverfasser:	Vici, Andrea, Russo, Felice, Lovisi, Nicola, Marchioni, Aldo, Casella, Antonio, Irrera, Fernanda
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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