DDtM: Increasing Latent Defect Detection in Analog/Mixed-Signal ICs Using the Difference in Distance to Mean Value

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 2022-11, Vol.41 (11), p.4771-4781
Hauptverfasser:	Gomez, Jhon, Xama, Nektar, Coyette, Anthony, Vanhooren, Ronny, Dobbelaere, Wim, Gielen, Georges
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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