Design Margin Reduction Through Completion Detection in a 28-nm Near-Threshold DSP Processor

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Ieee Journal Of Solid-State Circuits 2022-02, Vol.57 (2), p.651-660
Hauptverfasser:	Uytterhoeven, Roel, Dehaene, Wim
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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