Machine Learning-based Defect Coverage Boosting of Analog Circuits under Measurement Variations

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 2020-08, Vol.25 (5)
Hauptverfasser:	Xama, Nektar, Andraud, Martin, Gomez, Jhon, Esen, Baris, Dobbelaere, Wim, Vanhooren, Ronny, Coyette, Anthony, Gielen, Georges
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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