Analysis of Functional Errors Produced by Long-Term Workload-Dependent BTI Degradation in Ultralow Power Processors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS 2020-10, Vol.28 (10), p.2122-2133
Hauptverfasser:	Duch, Loris, Peon-Quiros, Miguel, Weckx, Pieter, Levisse, Alexandre, Braojos, Ruben, Catthoor, Francky, Atienza, David
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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