A Robust BBPLL-Based 0.18-μm CMOS Resistive Sensor Interface With High Drift Resilience Over a-40 °C-175 °C Temperature Range

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 2019-07, Vol.54 (7), p.1862-1873
Hauptverfasser:	Marin, Jorge, Sacco, Elisa, Vergauwen, Johan, Gielen, Georges
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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