Robust formation of ferroelectric HfO2 films by Y2O3 sub-monolayer lamination

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics express 2022-12, Vol.15 (12)
Hauptverfasser: Mizutani, Kazuto, Hoshii, Takuya, Wakabayashi, Hitoshi, Tsutsui, Kazuo, Chang, Edward Y., Kakushima, Kuniyuki
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1882-0778
1882-0786
DOI:10.35848/1882-0786/ac9d20