The ferroelectric and piezoelectric properties of (Hf1−x Ce x )O2 films on indium tin oxide/Pt/TiO x /SiO2/(100)Si substrates obtained using a no-heating radio-frequency magnetron sputtering deposition method

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2024-04, Vol.63 (4)
Hauptverfasser: Chaya, Nachi, Okamoto, Kazuki, Hirai, Koji, Yasuoka, Shinnosuke, Inoue, Yukari, Yamaoka, Wakiko, Funakubo, Hiroshi
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.35848/1347-4065/ad3a71