(Invited) Advancing Quantitative, Contactless, Non-Destructive Characterization of Photonic and Plasmonic Devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2024-11, Vol.MA2024-02 (35), p.2455-2455
Hauptverfasser: Zapien, J Antonio, Foo, Yishu, Phoo, May Thawda, Huqe, Md Rashedul, Zhang, Yun, Kwong, Yee Man
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2151-2035
DOI:10.1149/MA2024-02352455mtgabs