Fabrication, Electrical and Dielectric Characterization of Au/CNT/TiO2/SiO2/p-Si/Al with High Dielectric Constant, Low Loss Dielectric Tangent

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ECS journal of solid state science and technology 2021-05, Vol.10 (5)
Hauptverfasser:	Ashery, A., Gad, S. A., Gaballah, A. E. H, Turky, G. M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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