Surface deformation studies of TiO2 thin films by double exposure laser holographic interferometry

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Veröffentlicht in:	Laser physics 2023-07, Vol.33 (7)
Hauptverfasser:	Arul, A R, Ramalingam, H B, Balamurugan, R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	deformation double exposure laser holographic interferometry stress thickness thin film TiO
Online-Zugang:	Volltext
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