Universal conductance fluctuations in a Bi1.5Sb0.5Te1.8Se1.2 topological insulator nano-scaled Hall bar structure

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor science and technology 2023-03, Vol.38 (3)
Hauptverfasser: Zimmermann, Erik, Kölzer, Jonas, Schleenvoigt, Michael, Rosenbach, Daniel, Mussler, Gregor, Schüffelgen, Peter, Heider, Tristan, Plucinski, Lukasz, Schubert, Jürgen, Lüth, Hans, Grützmacher, Detlev, Schäpers, Thomas
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0268-1242
1361-6641
DOI:10.1088/1361-6641/acb45f