Improving the ferroelectric properties of Lu doped Hf0.5Zr0.5O2 thin films by capping a CeO x layer

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Nanotechnology 2024-09, Vol.35 (38)
Hauptverfasser: Xiao, Yongguang, Yang, Lisha, Jiang, Yong, Liu, Siwei, Li, Gang, Ouyang, Jun, Tang, Minghua
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0957-4484
1361-6528
DOI:10.1088/1361-6528/ad5bee