A Two-Step ADC With Statistical Calibration
This paper describes a prototype two-step ADC with adjustable resolution in 40 nm CMOS technology. It uses a front-end successive-approximation-register ADC and a back-end time-domain ADC. Digital statistical calibration overcomes errors from front-end mismatch as well as inter-stage and back-end no...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers Regular papers, 2020-08, Vol.67 (8), p.2588-2601 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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