A Two-Step ADC With Statistical Calibration

This paper describes a prototype two-step ADC with adjustable resolution in 40 nm CMOS technology. It uses a front-end successive-approximation-register ADC and a back-end time-domain ADC. Digital statistical calibration overcomes errors from front-end mismatch as well as inter-stage and back-end no...

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Veröffentlicht in:IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers Regular papers, 2020-08, Vol.67 (8), p.2588-2601
Hauptverfasser: Yu, Yi-Long, Hurst, Paul J., Levy, Bernard C., Lewis, Stephen H.
Format: Artikel
Sprache:eng
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