Development of a Burn-in and Test Process for Producing Known-Good-Die

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Prokopchak, L., Wrenn, J.M.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Automatic testing Conductive films Contacts Costs Integrated circuit testing Packaging machines Semiconductor device manufacture Sockets Substrates System testing
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Beschreibung
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DOI:	10.1109/ICMCM.1994.753524