Seu And Latch-up Results For Sparc Processors

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Estreme, F., Chapuis, T., Velazco, R., Karoui, S., Trigaux, R., Benezech, D., Rosier, L.H.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Circuit testing Collaboration Integrated circuit testing Large scale integration Microprocessors Read-write memory Registers Single event upset System testing Test facilities
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