On error modeling of electrical bugs for post-silicon timing validation
There is great demand for an accurate and scalable metric to evaluate the functional stimuli, testbench checkers, and DfD (Design-for-Debug) structures used in post-silicon timing validation. In this paper, we show the inadequacy of existing methods (due to either inaccuracy or a lack of scalability...
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Format: | Tagungsbericht |
Sprache: | eng |
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