A CMOS mismatch model and scaling effects
In this letter a novel single-pair mismatch model for short-channel MOS devices is developed, and scaling effects of mismatch distributions are investigated based on the model. The mismatch effect is modeled with threshold voltage, current factor, source resistance, and body factor mismatches. SPICE...
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Veröffentlicht in: | IEEE electron device letters 1997-06, Vol.18 (6), p.261-263 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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