IMPLEMENTING 1149.1 ON CMOS MICROPROCESSORS

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Bruce, W.C., Gallup, M.G., Giles, G., Munns, T.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	CMOS technology Design for testability Microprocessors Pins Production facilities Reduced instruction set computing Semiconductor devices Statistics Testing Very large scale integration
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