IMPACT OF COPPER DIFFUSION ON THE HIGH POWER SWITCHING PERFORMANCE OF Si-DOPED. Cu-COMPENSATED GALLI

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Hauptverfasser: Roush, R.A., Stoudt, D.C., Mazzola, M.S.
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:10.1109/MODSYM.1992.492635