Determining factors affecting ESD failure voltage using DOE

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Whitman, C.S., Gilbert, T.M., Rahn, A.M., Antonell, J.A.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Assembly Circuits Electrostatic discharge Failure analysis Gallium arsenide Logistics Protection Radio frequency US Department of Energy Voltage
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/ROCS.2005.201553