Junction leakage in advanced CMOS technologies

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Dachs, C.J.J., Surdeanu, R., Guyot, D., Parlangeli, A., Ponomarev, Y.V., Stolk, P.A.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	CMOS technology
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/ESSDERC.2001.195229