Suitability of Scaled SOI CMOS for High-Frequency Analog Circuits

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Zamdmer, N., Plouchart, J.-O., Kim, J., Lu, L.-H., Narasimha, S., O'Neil, P., Ray, A., Sherony, M., Wagner, L.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analog circuits Applied sciences Calibration Capacitance measurement Circuit properties CMOS analog integrated circuits Contact resistance Electric, optical and optoelectronic circuits Electrical resistance measurement Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology FETs Frequency measurement Gain measurement Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Silicides Transistors
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/ESSDERC.2002.194980