RF Distortion Characterisation of Sub-Micron CMOS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Tiemeijer, L.F., van Langevelde, R., Gaillard, O., Havens, R.J., Baltus, P.G.M., Woerlee, P.H., Klaassen, D.B.M.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Charge carrier processes CMOS technology Current measurement Distortion measurement Energy consumption Harmonic analysis Linearity Power measurement Radio frequency Semiconductor device modeling
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