Influence of the Guard Ring on the RF Properties of IO Pads

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Riihisaari, T., Ronkainen, H., Hakojarvi, H.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atherosclerosis BiCMOS integrated circuits Coupling circuits Dielectric substrates Grounding Information technology Microelectronics Radio frequency Silicon Testing
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