Stress-Related Effects on the C-V Characteristics of Pseudomorphic MODFETs

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Manzoli, J.E., Romero, M.A., Hipolito, O.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Capacitance-voltage characteristics Capacitive sensors Effective mass Electrons Epitaxial layers HEMTs Lattices MODFETs Poisson equations Strain control
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!