Two-dimensional analytical model of subthreshold current in fully-depleted SOI MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Pidin, S., Kurino, H., Koyanagi, M.
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:10.1109/ESSDERC.1997.194519