Influence of thermal heating effect on pulsed DC electromigration result analysis

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Waltz, P., Arnaud, L., Tartavel, G., Lormand, G.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Circuit testing Current density Electromigration Frequency Heating Metallization Performance evaluation Predictive models Temperature Thermal stresses
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