A new technique for evaluating the permittivity of low loss thin film dielectric-materials-at mm-wave frequencies

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Hammad, H.F., Zelonka, K., Freundorfer, A.P., Antar, Y.M.M., Sayer, M.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Dielectric losses Dielectric materials Dielectric thin films Educational institutions Filters Frequency Materials science and technology Optical computing Permittivity Physics computing
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/NRSC.2005.194041