Measurement of the effective minority carrier lifetime in the floating region of a P-N-P-N device

Measurement of the effective minority carrier lifetime in the floating region of a P-N-P-N device

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on electron devices 1966-05, Vol.ED-13 (5), p.511-512
Hauptverfasser: Fournier, M., Lemyre, C.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9383
1557-9646
DOI:10.1109/T-ED.1966.15720