"A method of determining impurity diffusion coefficients and surface concentrations of drift transistors"

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:I.R.E. transactions on electron devices 1956-04, Vol.3 (2), p.109-109
Hauptverfasser: Happ, W.W., Greenberg, L.S., Martowska, Z.A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0096-2430
2379-8661
DOI:10.1109/T-ED.1956.14120