Compensated layout for automated accurate common-centroid capacitor arrays

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Khalil, D., Dessouky, M., Bourguet, V., Louerat, M.-M., Cathelin, A., Ragai, H.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analog circuits Automatic testing Capacitance Capacitors Circuit testing Computer Science Fabrication Geometry Laboratories Research and development Semiconductor device measurement
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/ICEEC.2004.1374505