Neki aspekti modeliranja reflektancijskog profila linijskog rasterskog elementa u okviru Monte Carlo metode

Bolje razumijevanje kako unutarnje strukturne promjene utječu na optička svojstva papira zahtijeva modeliranje kompozitne strukture njegovih slojeva. Predložena je simulacija u okviru Monte Carlo platforme, koja omogućuje različite geometrijske reprezentacije unutarnje strukture papira. Monte Carlo simulacija je metoda koja se može koristiti za simulaciju interakcije fotona s podlogom (u našem slučaju papirom). Model se može graditi tako da se povećanje složenosti može dodati kako se model razvija. Dakle, model se razvija od jednostavnog koncepta generacije slučajnih brojeva u vrlo točno tumačenje širenja fotona u papiru. Navedeni model primijenjen je na analizu učinka prirasta rastertonske vrijednosti otisnutih linija raznih debljina. Rezultati simulacije dobro se slažu s mjerenjima refleksije nakon što je dodatno uvedena funkcija "filtar" koja trajno uklanja fotone čime smo prilagodili simulirane vrijednosti mjerenim. U okviru simulacije, možemo procijeniti broj fotona koji završava ispod rasterskog elementa i uzrokuje mogući optički prirast rastertonske vrijednosti.