Retina for Pattern Matching in Standard O.6um CMOS Technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of electronic imaging 2004, Vol.13 (3), p.559-569
Hauptverfasser:	Aubreton, Olivier, Bellach, Benaïssa, Lew Yan Voon, L.F.C., Lamalle, Bernard, Gorria, Patrick, Cathébras, Guy
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
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