Combining Atomic-Scale EDX with Inelastic Multislice Simulations for Quantitative Chemical Analysis of AlGaN/GaN 1 nm-thick Quantum Wells

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.2564-2566
Hauptverfasser: Castioni, Florian, Cuesta, Sergi, Bernier, Nicolas, Quéméré, Patrick, Robin, Eric, Delaye, Vincent, Monroy, Eva, Bayle-Guillemaud, Pascale
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927622009771