Gate‐Tunable Negative Differential Resistance in Next‐Generation Ge Nanodevices and their Performance Metrics

In the quest to push the contemporary scientific boundaries in nanoelectronics, Ge is considered a key building block extending device performances, delivering enhanced functionalities. In this work, a quasi‐1D monocrystalline and monolithic Al–Ge–Al nanowire heterostructure are embedded into a nove...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced electronic materials 2021-03, Vol.7 (3), p.n/a
Hauptverfasser: Böckle, Raphael, Sistani, Masiar, Eysin, Kilian, Bartmann, Maximilian G., Luong, Minh Anh, den Hertog, Martien I., Lugstein, Alois, Weber, Walter M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!