Electron-paramagnetic-resonance study of the microscopic structure of the Si(001)- SiO 2 interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1995-10, Vol.52 (16), p.R11599-R11602
Hauptverfasser:	Cantin, J. L., Schoisswohl, M., von Bardeleben, H. J., Hadj Zoubir, N., Vergnat, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed Matter Materials Science Physics
Online-Zugang:	Volltext
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