HAADF–STEM atom counting in atom probe tomography specimens: Towards quantitative correlative microscopy

The geometry of atom probe tomography tips strongly differs from standard scanning transmission electron microscopy foils. Whereas the later are rather flat and thin (

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Ultramicroscopy 2015-12, Vol.159, p.403-412
Hauptverfasser:	Lefebvre, W., Hernandez-Maldonado, D., Moyon, F., Cuvilly, F., Vaudolon, C., Shinde, D., Vurpillot, F.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Annular Atom counting Atom probe tomography Atomic force microscopy Correlation analysis Correlative microscopy Counting Electron probes HAADF Physics Simulation STEM Tips Tomography
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Schreiben Sie den ersten Kommentar!