TEM and STEM Observations of a Flat Continuous Silicon-Germanium Thin Film Epitaxially Grown on Porous Silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of materials science and chemical engineering 2017, Vol.5 (1), p.26-34
Hauptverfasser:	Yamanaka, Junji, Usami, Noritaka, Amtablian, Sevak, Fave, Alain, Lemiti, Mustapha, Yamamoto, Chiaya, Nakagawa, Kiyokazu
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Materials
Online-Zugang:	Volltext
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